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2025-11-22
MEMS光開(kāi)關(guān)的高性能依賴(lài)于精密的制造工藝,從基板制備到成品檢測,每個(gè)環(huán)節的工藝控制都直接影響產(chǎn)品的最終性能。廣西科毅光通信深知制造工藝的重要性,建立了一套從材料選型到成品出廠(chǎng)的全流程質(zhì)量控制體系,采用先進(jìn)的MEMS加工技術(shù),確保每一款光開(kāi)關(guān)產(chǎn)品都能滿(mǎn)足客戶(hù)的高性能需求。本文將詳細介紹MEMS光開(kāi)關(guān)的核心制造工藝與質(zhì)量控制要點(diǎn)。
MEMS光開(kāi)關(guān)的制造基于SOI基板,采用光刻、刻蝕、鍍覆、犧牲層去除等一系列精密加工工藝,核心步驟如下:
選用高品質(zhì)SOI(絕緣體上硅)基板,基板由第一層(單晶硅,厚度10μm)、中間層(二氧化硅,厚度2μm)、第二層(單晶硅,厚度400μm)構成?;宓倪x擇需滿(mǎn)足高平整度、低缺陷密度的要求,通過(guò)嚴格的供應商篩選和進(jìn)貨檢測,確?;遒|(zhì)量符合加工標準。
1. 采用濺射法在SOI基板的第一層表面沉積Cr膜(厚度50nm)和Au膜(厚度500nm),形成多層導體膜;
2. 通過(guò)光刻法在導體膜上形成預定的抗蝕劑圖形,該圖形對應可移動(dòng)接觸導體和第一驅動(dòng)電極的形狀;
3. 以抗蝕劑圖形為掩模,對多層導體膜進(jìn)行刻蝕處理,形成可移動(dòng)接觸導體和第一驅動(dòng)電極,完成核心導電組件的制備。
1. 采用光刻法在基板第一層表面形成規定的抗蝕劑圖形,掩模覆蓋后續將形成可移動(dòng)懸臂、錨定部分和固定件的區域;
2. 采用離子刻蝕(如Ar離子物理刻蝕)對第一層進(jìn)行各向異性刻蝕,直到達到中間層(二氧化硅)為止,形成用于隔離各組件的狹槽(寬度2μm),實(shí)現可移動(dòng)部分與固定件的物理分離。
1. 采用等離子體CVD或濺射法,在基板第一層一側沉積二氧化硅犧牲層(厚度2μm),堵塞之前形成的狹槽,為后續電極制備提供平整的基底;
2. 通過(guò)光刻法和濕刻蝕工藝,在犧牲層上形成凹槽和開(kāi)口:凹槽對應固定接觸電極的接觸部分(深度1μm),開(kāi)口用于暴露固定件的連接區域,為后續電極連接做準備。

微型開(kāi)關(guān)器件的方法的一些步驟
1. 在犧牲層表面形成用于通電的基底膜(Cr膜50nm+Au膜500nm);
2. 采用光刻法形成掩模,掩模上的開(kāi)口對應第二驅動(dòng)電極和固定接觸電極的形狀;
3. 采用鍍覆法(如電鍍金)在掩模開(kāi)口暴露的基底膜上生長(cháng)金屬,形成第二驅動(dòng)電極和固定接觸電極(厚度≥5μm);
4. 刻蝕去除掩模和基底膜的暴露部分,完成電極組件的全部制備。
1. 采用濕刻蝕法(使用緩沖氫氟酸BHF)去除犧牲層,暴露可移動(dòng)懸臂結構和固定電極;
2. 繼續刻蝕去除可移動(dòng)懸臂結構下方的部分中間層(二氧化硅),使可移動(dòng)懸臂結構與基板分離,僅通過(guò)錨定部分固定;
3. 采用超臨界干燥法對器件進(jìn)行干燥處理,避免可移動(dòng)懸臂結構因表面張力粘接到基板上,確保其彈性變形能力。
1. 通過(guò)濕刻蝕去除附著(zhù)在電極表面的殘留基底膜,提升電極的導電性能;
2. 對器件進(jìn)行外觀(guān)檢測、尺寸測量、性能測試(插入損耗、切換速度、隔離度等),合格產(chǎn)品包裝出廠(chǎng)。


光刻工藝的精度直接決定了電極、狹槽等結構的尺寸精度,是MEMS光開(kāi)關(guān)制造的核心環(huán)節。廣西科毅光通信采用高精度光刻設備,控制光刻分辨率≤1μm,確保電極寬度、狹槽間距等關(guān)鍵尺寸的誤差在±0.1μm以?xún)?。同時(shí),嚴格控制光刻膠的涂覆厚度、曝光時(shí)間、顯影溫度等參數,避免出現圖形畸變、邊緣模糊等問(wèn)題。
刻蝕工藝包括離子刻蝕和濕刻蝕,需確??涛g深度均勻、側壁垂直。離子刻蝕過(guò)程中,通過(guò)控制離子束強度、刻蝕時(shí)間,確保第一層單晶硅的刻蝕深度精準達到中間層;濕刻蝕過(guò)程中,嚴格控制蝕刻劑濃度、溫度、攪拌速度,避免過(guò)度刻蝕或刻蝕不足,確保犧牲層和中間層的去除效果。
固定接觸電極和驅動(dòng)電極的鍍覆質(zhì)量直接影響其導電性能和耐磨性。鍍覆過(guò)程中,控制鍍液濃度、溫度、電流密度等參數,確保電極厚度均勻(誤差≤0.2μm),表面平整、無(wú)針孔、無(wú)氧化現象。同時(shí),通過(guò)附著(zhù)力測試、耐磨性測試,確保電極與基底的結合力強,使用壽命長(cháng)。
犧牲層去除不徹底會(huì )導致可移動(dòng)懸臂結構無(wú)法正常變形,影響開(kāi)關(guān)性能。采用緩沖氫氟酸進(jìn)行濕刻蝕時(shí),通過(guò)控制蝕刻時(shí)間和溫度,確保犧牲層完全去除;超臨界干燥法能有效避免可移動(dòng)結構的粘接問(wèn)題,干燥過(guò)程中控制壓力、溫度的變化速率,確保器件結構穩定。
1. 建立合格供應商名錄,對基板、金屬靶材、光刻膠、蝕刻劑等原材料的供應商進(jìn)行嚴格審核,要求提供質(zhì)量檢測報告;
2. 原材料進(jìn)貨后,進(jìn)行外觀(guān)檢測、尺寸測量、性能測試(如基板平整度、金屬靶材純度),不合格原材料禁止入庫。
1. 每個(gè)制造工序都設置質(zhì)量檢測點(diǎn),對關(guān)鍵參數進(jìn)行實(shí)時(shí)監測,如光刻后的圖形尺寸、刻蝕深度、鍍覆厚度等;
2. 采用統計過(guò)程控制(SPC)方法,對工藝參數進(jìn)行數據分析,及時(shí)發(fā)現過(guò)程波動(dòng),采取糾正措施,確保工藝穩定性;
3. 操作人員需經(jīng)過(guò)專(zhuān)業(yè)培訓和考核,持證上崗,嚴格按照作業(yè)指導書(shū)進(jìn)行操作,避免人為失誤。
1. 外觀(guān)檢測:采用顯微鏡對成品進(jìn)行外觀(guān)檢查,確保無(wú)破損、污染、電極脫落等問(wèn)題;
2. 尺寸檢測:使用高精度投影儀、掃描電子顯微鏡(SEM)測量關(guān)鍵尺寸,確保符合設計要求;
3. 電性能測試:測試插入損耗、隔離度、切換速度、驅動(dòng)電壓、功耗等關(guān)鍵電性能參數,確保滿(mǎn)足產(chǎn)品規格書(shū)要求;
4. 環(huán)境可靠性測試:對成品進(jìn)行高低溫循環(huán)測試(-40℃~85℃)、濕熱測試(40℃,95%RH)、老化測試(1000小時(shí)),確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性;
5. 包裝出廠(chǎng):合格產(chǎn)品采用防靜電包裝,附帶產(chǎn)品檢測報告,確保運輸過(guò)程中不受損壞。
為進(jìn)一步提升產(chǎn)品性能和生產(chǎn)效率,廣西科毅光通信持續進(jìn)行制造工藝的創(chuàng )新與升級:
1. 引入高精度原子層沉積(ALD)技術(shù),用于制備壓電膜和絕緣層,提升膜層的均勻性和致密性;
2. 優(yōu)化光刻工藝,采用深紫外光刻(DUV)技術(shù),進(jìn)一步提高圖形分辨率,適配更小尺寸的光開(kāi)關(guān)設計;
3. 引入自動(dòng)化生產(chǎn)設備,實(shí)現光刻、刻蝕、鍍覆等工序的自動(dòng)化操作,減少人為干預,提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性。
微型光開(kāi)關(guān)的制造工藝是技術(shù)實(shí)力的核心體現,廣西科毅光通信憑借先進(jìn)的制造設備、完善的質(zhì)量控制體系和持續的工藝創(chuàng )新,已實(shí)現MEMS光開(kāi)關(guān)的規?;?、高精度生產(chǎn)。公司生產(chǎn)的光開(kāi)關(guān)產(chǎn)品不僅性能優(yōu)異,而且質(zhì)量穩定,得到了國內外客戶(hù)的廣泛認可。
擇合適的光開(kāi)關(guān)是一項需要綜合考量技術(shù)、性能、成本和供應商實(shí)力的工作。希望本指南能為您提供清晰的思路。我們建議您在明確自身需求后,詳細對比關(guān)鍵參數,并優(yōu)先選擇像科毅光通信這樣技術(shù)扎實(shí)、質(zhì)量可靠、服務(wù)專(zhuān)業(yè)的合作伙伴。
訪(fǎng)問(wèn)廣西科毅光通信官網(wǎng)www.www.hellosk.com瀏覽我們的光開(kāi)關(guān)產(chǎn)品,或聯(lián)系我們的銷(xiāo)售工程師,獲取專(zhuān)屬的選型建議和報價(jià)!
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